9: Morfología y estructura de la superficie
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- 9.1: Interferometría
- Los procesos que ocurren en las superficies de los cristales dependen de muchos factores externos e internos como la estructura y composición cristalina, las condiciones de un medio donde existe la superficie cristalina y otros. La aparición de una superficie cristalina es el resultado de la complejidad de las interacciones entre la superficie cristalina y el ambiente.
- 9.2: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una forma de microscopía de sonda de barrido de alta resolución, también conocida como microscopía de fuerza de barrido (SFM).
- 9.3: SEM y sus Aplicaciones para la Ciencia de Polímeros
- El microscopio electrónico de barrido (SEM) es una técnica de imagen muy útil que utilizó un haz de electrones para adquirir imágenes de alto aumento de especímenes. Muy similar al microscopio electrónico de transmisión (TEM), el SEM mapea los electrones reflejados y permite la obtención de imágenes de muestras gruesas (~mm), mientras que el TEM requiere especímenes extremadamente delgados para la imagen; sin embargo, el SEM tiene aumentos menores.
- 9.4: Caracterización de Catalizadores Usando Detector de Conductividad
- La dispersión de metales es un término común dentro de la industria de catalizadores. El término se refiere a la cantidad de metal que es activo para una reacción específica. Supongamos que un material catalizador tiene una composición de 1% en peso de paladio y 99% de alúmina (Al2O3) (Figura 9.4.1) Aunque el material catalizador tiene 1% en peso de paladio, no todo el paladio está activo.