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7: Imágenes de superficie y perfilado de profundidad

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    • 7.1: Conceptos básicos en imagen de superficie y espectroscopía localizada
      La mayoría de las técnicas espectroscópicas superficiales implican sondear la superficie exponiéndola a un flujo de “partículas” (hν, e-, A+...) y simultáneamente monitorear la respuesta a esta estimulación, por ejemplo, midiendo la distribución de energía de los electrones emitidos. En su forma más básica, estas técnicas recopilan información de un área de superficie relativamente grande (∼ mm2). En la mayoría de los casos, sin embargo, existen variaciones de estas técnicas que permiten ambas.
    • 7.2: Microscopía Electrónica - SEM y SAM
      Las dos formas de microscopía electrónica que se utilizan comúnmente para proporcionar información de superficie son: Microscopía Electrónica Secundaria (SEM) - que proporciona una imagen directa de la naturaleza topográfica de la superficie de todos los electrones secundarios emitidos y Microscopía de Barrido (SAM) - que proporciona mapas composicionales de una superficie mediante la formación de una imagen a partir de los electrones Auger emitidos por un elemento en particular.
    • 7.3: Imagenología XPS
      La combinación de las características de la espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (en particular, el análisis cuantitativo de elementos superficiales y la información del estado químico - ver 5.3) junto con la localización espacial es una opción particularmente deseable en el análisis de superficie. Sin embargo, si bien se ha avanzado mucho en el desarrollo de la técnica de imagen XPS, todavía hay un considerable esfuerzo de investigación que se está dedicando a mejorar la resolución espacial disponible más allá de lo que actualmente está disponible.
    • 7.4: SIMS - Imágenes y Perfilado de Profundidad
      Dado que la técnica SIMS utiliza un haz de iones atómicos (es decir, partículas cargadas) como sonda, es un asunto relativamente fácil enfocar el haz incidente y luego escanearlo a través de la superficie para dar una técnica de imagen.
    • 7.5: Perfilado de profundidad de barrena
      La espectroscopia de barrena es una técnica espectroscópica sensible a la superficie que produce información composicional. En su forma básica, proporciona información composicional sobre un área de superficie relativamente grande utilizando una sonda de haz de electrones de enfoque amplio. De esta manera, se puede obtener fácilmente suficiente señal manteniendo bajo el flujo de electrones incidente y evitando así posibles modificaciones inducidas por electrones de la superficie. Como consecuencia, la técnica es no destructiva cuando se usa de esta manera.
    • 7.6: Microscopía de Sonda de Escaneo - STM y AFM
      La Microscopía de Túnel de Barrido (STM) impulsó el desarrollo de toda una familia de técnicas relacionadas que, junto con STM, pueden clasificarse en la categoría general de técnicas de microscopía de sonda de barrido. De estas técnicas posteriores, la más importante es la Microscopía de Fuerza Atómica. El desarrollo de estas técnicas ha sido el evento más importante en el campo de las ciencias de superficie en los últimos tiempos, y abrió muchas nuevas áreas de la ciencia y la ingeniería a nivel atómico y molecular.


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