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11.2: Muestreo Electroóptico

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El muestreo electroóptico fue inventado por Valdmanis y Mourou a principios de la década de 1980 [8] [5]. Se basa en la rotación de polarización de un pulso láser corto cuando se propaga en un medio que muestra un efecto electro-óptico lineal. La rotación de polarización se debe a un campo eléctrico aplicado, es decir, el pulso óptico muestrear el campo eléctrico instantáneo, ver Fig. 11.6

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Figura 11.6: Esquema de muestreo electroóptico según J. Whitaker, Univ. de Michigan, Ann Arbor.

Figura por MIT OCW.

En la Figura 11.6 se genera un transitorio eléctrico con un interruptor fotoconductor activado por un pulso láser de femtosegundo. Un pulso retardado muestreó el pulso electrónico transitorio con una sonda electro-óptica como se muestra en la Figura 11.7.

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Figura 11.7: Sonda LitaO3-electro-ótpica según J. Whitaker, Univ. Míchigan

Figura por MIT OCW.

La Figura 11.8 muestra una versión general de un sistema de muestreo electro-óptico según J. Whitaker, Univ. de Michigan [6]

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Figura 11.8: Sistema de Muestreo Electro-Otpic según J. Whitaker, Univ. Míchigan

Figura por MIT OCW.


This page titled 11.2: Muestreo Electroóptico is shared under a CC BY-NC-SA 4.0 license and was authored, remixed, and/or curated by Franz X. Kaertner (MIT OpenCourseWare) via source content that was edited to the style and standards of the LibreTexts platform.

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