21: Caracterización superficial por espectroscopia y microscopía
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- Hasta ahora hemos considerado métodos para analizar las propiedades de volumen de las muestras, como determinar la identidad o concentración de un ion en una solución, de una molécula en un gas, o de varios elementos en un sólido. Al hacerlo, no nos preocupamos por la homogeneidad o heterogeneidad de la muestra, que puede variar a lo largo de cualquiera de los ejes x, y, z. En este capítulo damos consideración a la composición de la superficie de una muestra.
- 21.2: Métodos espectroscópicos de superficie
- n esta sección consideramos tres métodos analíticos de superficie representativos: espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, en la que la entrada es un haz de fotones de rayos X y la salida es electrones; Espectroscopia electrónica Auger, en la que la entrada es un haz de electrones o de fotones de rayos X y la salida es electrones; y espectrometría de masas de iones secundarios, en la que la entrada es un haz de iones y la salida es iones.
- 21.3: Microscopía Electrónica de Barrido
- En microscopía electrónica de barrido rasterizamos un haz de electrones de alta energía sobre una superficie usando una cuadrícula bidimensional, logrando un límite de resolución de aproximadamente 0.2 nm, o aproximadamente 1000× mejor que un microscopio óptico.
- 21.4: Microscopios con sonda de barrido
- en la última sección consideramos cómo podemos obtener imágenes de una superficie usando un haz de electrones. En esta sección consideramos un enfoque muy diferente para desarrollar una imagen de una superficie, uno en el que acercamos una sonda a la superficie y examinamos cómo interactúa la sonda con la superficie. Una ventaja de este enfoque es que la interacción entre la sonda y la superficie puede incluir atracción y repulsión, lo que abre el movimiento vertical como una tercera dimensión a la imagen.