Buscar

9.2: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
https://espanol.libretexts.org/Quimica/Qu%C3%ADmica_Anal%C3%ADtica/M%C3%A9todos_F%C3%ADsicos_en_Qu%C3%ADmica_y_Nano_Ciencia_(Barron)/09%3A_Morfolog%C3%ADa_y_estructura_de_la_superficie/9.02%3A_Microscop%C3%ADa_de_Fuerza_At%C3%B3mica_(AFM)
La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una forma de microscopía de sonda de barrido de alta resolución, también conocida como microscopía de fuerza de barrido (SFM).
7.6: Microscopía de Sonda de Escaneo - STM y AFM
https://espanol.libretexts.org/Quimica/Qu%C3%ADmica_F%C3%ADsica_y_Te%C3%B3rica/Libro%3A_Ciencia_de_superficie_(Nix)/07%3A_Im%C3%A1genes_de_superficie_y_perfilado_de_profundidad/7.06%3A_Microscop%C3%ADa_de_Sonda_de_Escaneo_-_STM_y_AFM
La Microscopía de Túnel de Barrido (STM) impulsó el desarrollo de toda una familia de técnicas relacionadas que, junto con STM, pueden clasificarse en la categoría general de técnicas de microscopía d...La Microscopía de Túnel de Barrido (STM) impulsó el desarrollo de toda una familia de técnicas relacionadas que, junto con STM, pueden clasificarse en la categoría general de técnicas de microscopía de sonda de barrido. De estas técnicas posteriores, la más importante es la Microscopía de Fuerza Atómica. El desarrollo de estas técnicas ha sido el evento más importante en el campo de las ciencias de superficie en los últimos tiempos, y abrió muchas nuevas áreas de la ciencia y la ingeniería a niv

Search