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4.7: Referencias

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    80871
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    [1] R. Hackborn, “Un sistema analizador automático de redes”, Microwave Journal, pp. 45—52, mayo de 1968.

    [2] http://www.ggb.com.

    [3] G. Engen y C. Hoer, “Thru-reflect-line: An improved technique for calibrating the dual six-port automatic network analyzer”, IEEE Trans. on Microwave Theory and Techniques, vol. 27, núm. 12, pp. 987—993, dic. 1979.

    [4] S. Goldberg, M. Steer, P. Franzon, y J. Kasten, “Caracterización eléctrica experimental de interconexiones y discontinuidades en sistemas digitales de alta velocidad”, IEEE Trans. on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology, vol. 14, núm. 4, pp. 761—765, dic. 1991.

    [5] M. Steer, S. Goldberg, G. Rinne, P. Franzon, I. Turlik, y J. Kasten, “Introducing the through-line desembedding procedure”, en 1992 IEEE MTT-S Int. Microondas Symp. Cavar. ,, jun. 1992, pp. 1455—1458.

    [6] J. Hunton, “Análisis de técnicas de medición de microondas mediante gráficos de flujo de señal”, IRE Trans. on Microwave Theory and Techniques, vol. 8, núm. 2, pp. 206—212, marzo de 1960.

    [7] J. Fitzpatrick, “Modelos de error para medición de sistemas”, Microwave Journal, pp. 63—66, mayo de 1978.

    [8] A. A. M. Saleh, “Fórmulas explícitas para la corrección de errores en conjuntos de medición de microondas con desajustes de puertos dependientes de conmutación”, IEEE Trans. on Instrumentación y Medición, vol. 28, núm. 1, pp. 67—71, marzo de 1979.

    [9] H. Shurmer, “Procedimiento de calibración para caracterización de parámetros corregidos por computadora de dispositivos montados en microcinta”, Electronics Letters, vol. 9, núm. 14, pp. 323—324, 12 1973.

    [10] Desincrustación e incrustación de redes S-paramater usando un analizador de redes vectoriales, mayo de 2004, nota de aplicación agilent 1363—1.

    [11] J. Butler, D. Rytting, M. Iskander, R. Pollard y M. Vanden Bossche, “Modelo de error de 16 términos y procedimiento de calibración para mediciones de análisis de red en oblea”, IEEE Trans. on Microwave Theory and Techniques, vol. 39, núm. 12, pp. 2211—2217, dic. 1991.

    [12] B. Bianco, M. Parodi, S. Ridella, y F. Selvaggi, “Launcher and microstrip characterization”, IEEE Trans. on Instrumentation and Measurement, vol. 25, núm. 4, pp. 320—323, dic. 1976.

    [13] C. Hoer, “Elegir longitudes de línea para calibrar analizadores de red”, IEEE Trans. on Microwave Theory and Techniques, vol. 31, núm. 1, pp. 76—78, enero de 1983.

    [14] C. A. Hoer, “Algunas preguntas y respuestas concernientes a las líneas aéreas como estándares de impedancia”, en 29a ARFTG Conf. Digest-Spring, vol. 11, jun. 1987, pp. 161—173.

    [15] P. Buff, “Caracterización de propagación en cables sobre tierra con pérdida”, tesis doctoral, Universidad Estatal de Carolina del Norte, 2006.

    [16] P. Buff, J. Nath y M. Steer, “Origin of the half-wave errors in microwave measurements using through-line calibrations”, IEEE Trans. on Instrumentation and Measurement, vol. 56, núm. 5, pp. 1610—1615, octubre de 2007.

    [17] R. Marks, “A multiline method of network analyzer calibration”, IEEE Trans. on Microwave Theory and Techniques, vol. 39, núm. 7, pp. 1205—1215, jul. 1991.

    [18] D. Williams, “De-embedding and unterminating microwave fixtures with nonlinear least squares”, IEEE Trans. on Microwave Theory and Techniques, vol. 38, núm. 6, pp. 787—791, jun. 1990.

    [19] N. R. Franzen y R. A. Speciale, “Un nuevo procedimiento para la calibración del sistema y la eliminación de errores en las mediciones automatizadas de parámetros s”, en 5ta Conf. Europea de Microondas , sep. 1975, pp. 69—73.

    [20] J. Benet, “El diseño y calibración de un accesorio de prueba MMIC universal”, en Microonda y Circuitos Monolíticos de Onda Millimétrica, vol. 82, núm. 1, jun. 1982, pp. 36—41.

    [21] S. R. Pennock, C. M. D. Rycroft, P. R. Shepherd y T. Rozzi, “Caracterización de transición con fines de desincrustación”, en la 17ª Conf. , sep. 1987, pp. 355— 360.

    [22] W. Eisenstadt e Y. Eo, “caracterización de línea de transmisión de interconexión ic basada en parámetros S”, IEEE Trans. sobre componentes, híbridos y tecnología de fabricación, vol. 15, núm. 4, pp. 483—490, agosto de 1992.

    [23] Yungseon Eo, W. Eisenstadt, y Jongin Shim, “caracterización transitoria de señal de alta velocidad basada en medición de parámetros S de interconexiones vlsi en sustrato sio2-si”, IEEE Trans. on Advanced Packaging, vol. 23, núm. 3, pp. 470—479, agosto de 2000.

    [24] Yungseon Eo y W. Eisenstadt, “Modelado de interconexión vlsi de alta velocidad basado en mediciones de parámetros s”, IEEE Trans. on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology, vol. 16, núm. 5, pp. 555—562, agosto de 1993.

    [25] R. Amaudov y R. Borisov, “Extracción basada en parámetros S de constante dieléctrica efectiva en líneas de transmisión sobre sustratos multicapa”, en Telecommunications Forum (TELFOR), 2011 19th, nov. 2011, pp. 900—903.


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